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EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-07-09
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-07-09
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-07-09
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-07-09
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-07-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-07-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-07-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-07-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-07-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-07-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-07-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-07-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-07-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-07-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-07-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-07-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-07-09
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-07-09
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-07-09
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-07-09
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-07-09
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2025-07-09
復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-07-09
漏水探測儀高靈敏智能型
jt-1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機身。
更新時間:2025-07-09
漏水探測儀數(shù)字濾波型
jt-5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路,,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水靈音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-07-09
手持式地下管道漏水檢測儀
jt-sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜,手持即可檢測,可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏,包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2025-07-09
管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進技術(shù),其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定,是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準(zhǔn)確定位泄漏點的位置。
更新時間:2025-07-09
供應(yīng)智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-1a地下管道泄漏檢測儀,是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器,擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力,輸出泄漏信號清晰靈敏,操作界面目了然,可以使您的工作更加輕松,它具有以下主要特點:微處理器數(shù)字經(jīng)線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機身。
更新時間:2025-07-09
供應(yīng)地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜,手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時,壓力水油氣從管道破損處向處噴射,與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲,這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑,此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號,通過主機進行放大顯示,并有選擇的過濾噪音,獨立出泄漏聲波,使操作者找到泄漏源
更新時間:2025-07-09
供應(yīng)數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水錄音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-07-09
供應(yīng)管道測漏儀/漏水檢測儀/數(shù)字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器,也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏,當(dāng)管道內(nèi)流體在壓力下逸出時,產(chǎn)生噪音能沿管道傳播,或沿埋層介質(zhì)傳播到地面,檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2025-07-09
供應(yīng)管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀,主機體積只有150mm×70mm×116mm大小,重約870克,攜帶操作為輕巧簡便,整體設(shè)計采用全金屬外殼,堅固耐用。
更新時間:2025-07-09
電子式聽漏棒
揚州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質(zhì)上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進的集成性上。
更新時間:2025-07-09
Surge測試儀可提供開放實驗室
emtest vcs 500-m surge測試儀 北京硬件開放實驗室 開放實驗室 共享實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-07-09
惠普安捷倫HP/Agilent模塊
惠普安捷倫hp/agilent模塊e1497a/e1498a 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃 硬件實驗室
更新時間:2025-07-09
惠普安捷倫HP/Agilent模塊
惠普安捷倫hp/agilent模塊e4208c 模塊板卡 硬件開放實驗室 硬件實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-07-09
Agilent安捷倫惠普邏輯探頭
agilent安捷倫惠普e5394a邏輯探頭 安捷倫邏輯測試線 安捷倫邏輯線 安捷邏輯探頭 硬件開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-07-09
SUN服務(wù)器提供開放實驗室
sun服務(wù)器t5240 sun服務(wù)器 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃 共享實驗室
更新時間:2025-07-09
HP惠普安捷倫微波開關(guān)
hp惠普安捷倫微波開關(guān)33313b 惠普微波開關(guān) 安捷倫微波開關(guān) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-07-09
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-07-09
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-07-09
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-07-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-07-09
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機飛達(dá)校正儀 氣動飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機型:juki系列機型
更新時間:2025-07-08
流動測震儀
bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器,具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時間:2025-07-08
漏電起痕指數(shù)CTI測試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時間:2025-07-08
高壓漏電檢測儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時間:2025-07-08
廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器
gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器
更新時間:2025-07-08
日本強力Kanetec高斯計TM-801EXP
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變,但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測量器
更新時間:2025-07-08

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑