其他產(chǎn)品及廠家

PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2025-07-08

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PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。

更新時間:2025-07-08

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號質(zhì)量一致性測試

pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題

更新時間:2025-07-08

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pcie2.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x4 眼圖測試物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。

更新時間:2025-07-08

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pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

更新時間:2025-07-08

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

更新時間:2025-07-08

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

更新時間:2025-07-08

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。

更新時間:2025-07-08

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

更新時間:2025-07-08

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Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

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Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2025-07-08

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HA405-DPA-SC-S8/120梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）

梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

更新時間:2025-07-08

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

更新時間:2025-07-08

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

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廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器

gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：濟寧神東工礦設(shè)備有限公司

U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

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USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

更新時間:2025-07-08

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生

更新時間:2025-07-08

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.

更新時間:2025-07-08

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。

更新時間:2025-07-08

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。

更新時間:2025-07-08

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MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。

更新時間:2025-07-08

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MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題

mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。

更新時間:2025-07-08

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。

更新時間:2025-07-08

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題重起問題

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題

更新時間:2025-07-08

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序：

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

PLC轉(zhuǎn)速儀ZKZ-4可編程轉(zhuǎn)速信號監(jiān)控裝置

zkz-4可編程轉(zhuǎn)速測控裝置外接轉(zhuǎn)速脈沖傳感器、殘壓信號實時監(jiān)測水輪發(fā)電機組的轉(zhuǎn)速，并在機組各轉(zhuǎn)速點輸出開關(guān)量信號和與機組轉(zhuǎn)速對應(yīng)的模擬量信號，為實現(xiàn)機組自動開、停機及電廠監(jiān)控系統(tǒng)服務(wù)。zkz-4可編程轉(zhuǎn)速測控裝置集頻率表、轉(zhuǎn)速表、轉(zhuǎn)速繼電器、轉(zhuǎn)速測試儀表于一體，是多用途轉(zhuǎn)速監(jiān)控表；

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：西安可雷可水電設(shè)備有限公司

SD-21陰極保護監(jiān)測儀SD-21

陰極保護監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃氣管道的腐蝕。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：北京瑞景上智環(huán)保技術(shù)有限公司

KIC 2000KIC 爐溫測試儀

kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

FBT12SMT爐溫測試儀，美國布瑞得進口爐溫測試儀

產(chǎn)品用途：用來對各種加熱或制冷設(shè)備進行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

KIC explorerkic爐溫測試儀報價，SMT爐溫測試儀，爐溫測試儀供應(yīng)商，7通道爐溫測試儀

kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號：explorer 7ch測量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測溫分辨率：0.1℃測溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

24通道無線溫度驗證儀，爐溫測試儀供應(yīng)

超小體積，內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

SMT布瑞得無線爐溫曲線測試儀GX61

超小體積，內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

爐溫測試儀回流焊波峰焊爐溫溫度記錄儀GX62

超小體積，內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

爐溫追蹤儀爐溫測試儀Bathrive_GX12

爐溫追蹤儀爐溫測試儀bathrive_gx12

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

SMT布瑞得爐溫曲線測試儀GX16

smt布瑞得爐溫曲線測試儀gx16

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀GX20

布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀gx20

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

6通道/9通道/12通道溫度驗證儀，爐溫測試儀供應(yīng)

lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器�，F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項目，給予使用者帶來更為輕松的工作需求。

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

布瑞得Bathrive GX10B隧道爐爐溫測試儀

bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸，讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

布瑞得Bathrive GX10無線爐溫測試儀爐溫監(jiān)控儀

布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸，讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

GQ-HW2A合金鋼化驗儀器，合金鋼成分分析儀

gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀：主要技術(shù)指標：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間：25~60s可調(diào)，一般35s*分析誤差：碳優(yōu)于gb/223.69-1997標準硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：南京固琦分析儀器制造有限公司

F-52美國FCC電流鉗

特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：上海祺煊實業(yè)有限公司

F-120-1美國FCC電流探頭

低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應(yīng)耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號，當用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：上海祺煊實業(yè)有限公司