sem 與 afm 是亞納米樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 afm 集成至 sem 中可融合兩者的優(yōu)勢,實(shí)現(xiàn)超高效工作流程,完成傳統(tǒng) afm 和 sem 難以或無法實(shí)現(xiàn)的限性能和復(fù)雜樣品分析。
gauge原子力顯微鏡作為世界上第一臺單芯片(single-chip)afm,是加拿大滑鐵盧大學(xué)(darpa聯(lián)合項(xiàng)目)近十年的研發(fā)成果。single-chip技術(shù)通過cmosmems工藝將afm的所有組件(精細(xì)xyz運(yùn)動和納米級感測)集成到單個(gè)1mm x 1 mm的芯片
park nx10 為您帶來納米分辨率的數(shù)據(jù),值得您信賴、使用和擁有。 在 smartscan auto 有的智能模式下,系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作,同時(shí)智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過park的技術(shù)才得以實(shí)現(xiàn)的。它不僅可以為您節(jié)省時(shí)間和金錢,還可以給您帶來優(yōu)質(zhì)的研究結(jié)果。
icspi通過整合機(jī)電一體化系統(tǒng),將傳統(tǒng)afm集成到一個(gè)cmos芯片上,設(shè)計(jì)生產(chǎn)出世界首款單芯片動態(tài)原子力顯微鏡(single-chip dynamic atomic force microscope)ngauge:更小、更快、更強(qiáng)!ngauge集成化原子力顯微鏡功能強(qiáng)大,操作簡便,環(huán)境適應(yīng)性極強(qiáng);具有卓越的振動免疫性,更少的漂移,極具性價(jià)比。
原子力顯微鏡中r-afm100包括了需要的afm 掃描配置:樣品臺、控制箱、探針、使用手冊和一個(gè)視頻顯微鏡。樣品尺寸:2.54x2.54x0.64cm標(biāo)準(zhǔn)掃描模式:振動式、非振動式、相位成像、側(cè)向力模式掃描器:50x50x17μ m 和15x15x7μ m視頻光學(xué)顯微鏡:放大倍數(shù)400x,分辨率2μ m
原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光,后接受信號經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。