x光測(cè)厚儀國(guó)產(chǎn)廠家針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析;軟件可分析5層25種元素鍍層;通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求;配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析;內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài);高度激光敏感性傳感器保護(hù)測(cè)試窗口不被樣品撞擊。
更新時(shí)間:2025-05-12