測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
gb/t 451.3接觸式紙張厚度儀 電子式紙張厚度測(cè)定儀——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-01
iso 534標(biāo)準(zhǔn)紙板測(cè)厚儀 紙張厚度測(cè)量?jī)x——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-01
c640電池硅片測(cè)厚儀 硅片厚度測(cè)量?jī)x 薄片厚度檢測(cè)儀，是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-01
薄片厚度測(cè)試儀 薄膜厚度檢測(cè)儀 高精度箔片測(cè)厚儀——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-01
銅箔厚度測(cè)定儀 銅箔厚度測(cè)量?jī)x 箔片厚度檢測(cè)儀——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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c640橡膠片材測(cè)厚儀 實(shí)驗(yàn)室厚度儀 高精度測(cè)厚測(cè)定儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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鋁箔厚度儀 鋁箔厚度檢測(cè)儀 鋁箔厚度測(cè)量?jī)x——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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紙板厚度測(cè)定儀 紙板厚度檢測(cè)儀 紙板厚度測(cè)量?jī)x——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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chy-c2a紙張測(cè)厚儀、紙張厚度儀、紙張厚度測(cè)定儀，采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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紙板紙張測(cè)厚儀 gb/t 6547瓦楞紙板厚度測(cè)試儀——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm 測(cè)厚儀測(cè)厚儀10mm
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測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm 測(cè)厚儀5mm
更新時(shí)間:2025-09-01
測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀 測(cè)厚儀測(cè)厚儀
更新時(shí)間:2025-09-01
本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損的測(cè)量鐵磁性材料上的非磁性材料涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
更新時(shí)間:2025-09-01
日本kett lz-373 涂層測(cè)厚儀/電磁渦流兩用型膜厚計(jì)本儀器采用電磁式和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損的測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）。
更新時(shí)間:2025-09-01
xb-110型錨索測(cè)力計(jì)主要用來測(cè)量和監(jiān)測(cè)各種錨桿、錨索、巖石螺栓、支柱、隧道與地下洞室中的支撐以及大型預(yù)應(yīng)力鋼筋混凝土結(jié)構(gòu)（橋梁和大壩等）中的載荷的預(yù)應(yīng)力的損失情用途特點(diǎn): xb-110型錨索測(cè)力計(jì)，主要用來測(cè)量和監(jiān)測(cè)各種錨桿、錨索、巖石螺栓、支柱、隧道與地下洞室中的支撐以及大型預(yù)應(yīng)力鋼筋混凝土結(jié)構(gòu)（橋梁和大壩等）中的載荷的預(yù)應(yīng)力的損失情況。
更新時(shí)間:2025-09-01
cjx-1型磁聚焦現(xiàn)象演示儀電源電壓：220v；cjx-1型磁聚焦現(xiàn)象演示儀產(chǎn)品參數(shù)：電源電壓：220v；示波管采用8sj31j示波管；加速電壓1100v；外型尺寸：400×280×260mm示波管采用8sj31j示波管
更新時(shí)間:2025-09-01
hzb-1型駐波演示儀（環(huán)形駐波）數(shù)顯頻率功率源頻率范圍：12.00－180.00hz。演示環(huán)形駐波和共振現(xiàn)象
更新時(shí)間:2025-09-01
hst-1型惠斯登電橋測(cè)電阻電橋在電磁測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)調(diào)節(jié)、自動(dòng)控制中的應(yīng)用十分廣泛。其特點(diǎn)是靈敏度和準(zhǔn)確度都很高；菟沟请姌蚴且环N直流電橋，利用其處于平衡狀態(tài)時(shí)的特點(diǎn)
更新時(shí)間:2025-09-01
dh-4516n動(dòng)態(tài)磁滯回線測(cè)試儀 儀器dh-4516n動(dòng)態(tài)磁滯回線測(cè)試儀與北京大學(xué)基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)中心聯(lián)合研制。除了測(cè)量傳統(tǒng)的磁滯回線和br、bs、hc等值外，還可進(jìn)行以下研究性實(shí)驗(yàn)：◆ 研究磁性材料在交流磁化場(chǎng)、交直流疊加磁化場(chǎng)時(shí)的磁性能；◆ 引入可調(diào)控的直流偏置，進(jìn)行動(dòng)態(tài)磁滯回線實(shí)驗(yàn)；◆ 測(cè)量可逆磁導(dǎo)率。◆ 實(shí)驗(yàn)需另
更新時(shí)間:2025-09-01
pcy系列高溫臥式膨脹儀用于檢測(cè)固體無機(jī)材料、金屬材料的高溫膨脹性能，特別是剛玉、耐火材料、精鑄用型殼及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨、碳素等無機(jī)材料、金屬制品的性能，為科研、教學(xué)提供必備的測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-01
dkz型多孔陶瓷孔道直徑測(cè)試儀適用于按gb/t1967-1996《多孔陶瓷孔道直徑試驗(yàn)方法》測(cè)定多孔陶瓷毛細(xì)孔管道z大值。本儀器主要由供氣瓶、電器控制箱及試樣夾具三部分組成，采用精密低量程數(shù)字測(cè)壓系統(tǒng)，精確測(cè)量試驗(yàn)壓力值。
更新時(shí)間:2025-09-01
qul型濕膜測(cè)厚儀依據(jù)gb/t 13452.2-92、iso 2808-1984。測(cè)量涂料濕膜的厚度，利用輪規(guī)偏心輪的刻度滾動(dòng)得出濕膜厚度，以μm表示。
更新時(shí)間:2025-09-01
hd-g型智能測(cè)氧儀可用于醫(yī)用高壓氧艙等高可靠性應(yīng)用場(chǎng)合，以及氣體生產(chǎn)、職業(yè)衛(wèi)生、人防、市政、醫(yī)療保健等諸多領(lǐng)域
更新時(shí)間:2025-09-01
ml-91微波測(cè)量?jī)x（廠家直銷）是一種用以測(cè)定各種微波設(shè)備輻射于空間能量的便攜式儀器，ml-91型工作頻段為0.9-10ghz，特別適用于微波爐和微波波段的雷達(dá)、微波中繼、衛(wèi)星通訊、遙控遙測(cè)等微波設(shè)備的
更新時(shí)間:2025-09-01
ml-91va微波測(cè)量?jī)x（廠家直銷）是其繼rl761、ml-91后的又一升級(jí)產(chǎn)品。該產(chǎn)品采用美國(guó)的高性能檢波芯片、雙探頭寬帶全向天線，并對(duì)檢測(cè)到的信號(hào)做了性能優(yōu)化算法，結(jié)合現(xiàn)代單片機(jī)技術(shù)使該產(chǎn)品在檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-09-01
ph值自動(dòng)平衡儀采用rs-232通訊接口，可與計(jì)算機(jī)連接，在計(jì)算機(jī)上實(shí)時(shí)顯示和存儲(chǔ)測(cè)量的溫度和ph值，為事后進(jìn)行數(shù)據(jù)分析帶來了便利。
更新時(shí)間:2025-09-01
電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，操作簡(jiǎn)單、使用方便、穩(wěn)定性好、測(cè)量精度高；可以直接測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度；采用磁阻法測(cè)量技術(shù)，通過磁阻大小測(cè)量即可得到覆蓋層厚度值，直接從儀器表頭上讀出；可應(yīng)用于電鍍層、油漆層、塑料層、紙張等厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量；雙量程（量程。0~200μm、量程ⅱ：150~2000μm），提高了測(cè)量精度。
更新時(shí)間:2025-09-01
電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，操作簡(jiǎn)單、使用方便、穩(wěn)定性好、測(cè)量精度高；可以直接測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度；采用磁阻法測(cè)量技術(shù)，當(dāng)測(cè)量探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探頭與導(dǎo)磁基體構(gòu)成一個(gè)閉合磁回路，通過磁阻大小測(cè)量
更新時(shí)間:2025-09-01
wry-c型微機(jī)熱原測(cè)溫儀用于注射用藥的熱原檢查和解熱藥的藥理研究，以及用于觀察藥物對(duì)動(dòng)物家兔體溫的影響等，它是檢驗(yàn)針劑質(zhì)量和研究藥物藥理的專用檢測(cè)儀器它采用電腦控制，按《藥典2010版》所規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的
更新時(shí)間:2025-09-01
tm-8812c超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用于生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測(cè)量，也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。能測(cè)試任何硬材料、鋁、紫銅、黃銅、鋅、聚乙烯、聚氯乙烯、灰鑄鐵、及其它任何超聲波的良導(dǎo)體厚度。如剛、鑄鋼、玻璃、陶瓷、塑料。
更新時(shí)間:2025-09-01
國(guó)內(nèi)精度最高，可達(dá)±0.01mm。 國(guó)內(nèi)測(cè)薄能力最強(qiáng)，可0.15mm的薄板。 國(guó)內(nèi)可測(cè)管徑最小，可測(cè)外徑≥5mm的薄壁管材壁厚。 儀器自帶可充電池組，交直流二用且自動(dòng)轉(zhuǎn)換，便于固定和流動(dòng)場(chǎng)合使用。
更新時(shí)間:2025-09-01
jmr-995 超聲波測(cè)厚儀是輕巧的韶聲波測(cè)厚儀，操作簡(jiǎn)便，僅用一只聲速調(diào)節(jié)旋鈕，使用時(shí)將探頭放在校正試塊上調(diào)節(jié)旋鈕至顯示值等于試塊標(biāo)準(zhǔn)值即可測(cè)厚，這種單一的調(diào)整方式在國(guó)內(nèi)尚屬首創(chuàng)。
更新時(shí)間:2025-09-01
雙功能技術(shù)的測(cè)厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測(cè)量自動(dòng)轉(zhuǎn)換應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法，適用于各種測(cè)量環(huán)境。可測(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
更新時(shí)間:2025-09-01
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀鍍層大公司滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)天瑞x射線熒光測(cè)厚儀 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2025-09-01
上海國(guó)產(chǎn)x熒光鍍層測(cè)厚儀器鍍層大公司滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)天瑞x射線熒光測(cè)厚儀 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2025-09-01
上海國(guó)產(chǎn)x熒光鍍層測(cè)厚儀器鍍層大公司滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)天瑞x射線熒光測(cè)厚儀 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2025-09-01
1.鍍金x熒光鍍層測(cè)厚儀上照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-09-01
江蘇x射線熒光光譜鍍層測(cè)厚儀鍍層樣品測(cè)試注意事項(xiàng)先要確認(rèn)基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞xrf熒光測(cè)厚儀多可以測(cè)5層金屬鍍層厚度 。通過對(duì)鍍層基材的測(cè)定，確定基材中是否含有對(duì)鍍層元素特征譜線有影響的物質(zhì)，比如pcb印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的br 。
更新時(shí)間:2025-09-01
上海x射線熒光電鍍層測(cè)厚儀電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
更新時(shí)間:2025-09-01
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀多少錢照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-09-01
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀多少錢照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-09-01
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀多少錢照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-09-01
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀多少錢照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-09-01
x熒光金屬膜厚測(cè)厚儀2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度9.大樣品腔
更新時(shí)間:2025-09-01
x熒光金屬膜厚測(cè)厚儀2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度9.大樣品腔
更新時(shí)間:2025-09-01
x光熒光鍍銀層測(cè)厚儀2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2025-09-01
x熒光測(cè)厚儀供貨商2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度9.大樣品腔10 .小孔準(zhǔn)直器
更新時(shí)間:2025-09-01
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。x射線鍍層光譜測(cè)厚儀相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
更新時(shí)間:2025-09-01
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