固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備由華測(cè)儀器生產(chǎn),采用高度集成化設(shè)計(jì),內(nèi)置基于labview系統(tǒng)開發(fā)的智能測(cè)試軟件,操作簡單,可實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)過程的無人化,并有斷電資料保存功能,可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)圖像的保存恢復(fù),支持各類測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。耐漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)價(jià)電工電子產(chǎn)品中使用的固體絕緣材料優(yōu)劣的重要指標(biāo),被廣泛應(yīng)用于電工電子、電器、半導(dǎo)體封裝、信息技術(shù)設(shè)備等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-09-01