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更新時間:2025-09-10
回收agilent53210a：：回收agilent53210a：agilent53210a單通道350mhz射頻頻率計數器經過優(yōu)化，可通過簡化用戶界面提供快速、精確的頻率測量。它可以添加可選的射頻通道，以進行6或15ghz測量。agilent53210a單通道350mhz射頻頻率計數器經過優(yōu)化，可通過簡化用戶界面提供快速、精確的頻率測量。它可以添加可選的射頻通道，以進行6或15ghz測量。
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更新時間:2025-09-10
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更新時間:2025-09-10
3540測試夾9287-10：3540是沒有外部控制接口的低價格版本，用于手動測試。 3540-01加入了bcd輸出和外部控制，3540-02包含了打印機接口，3540-03包含了rs-232c接口。微電阻計3540-01/3540-02/3540-03
更新時間:2025-09-10
出售安捷倫4284a：精密lcr測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測試方法來改善元件的質量。20hz到1mhz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號，使4284a在測試元件時符合最通行的測試標準如iec/mil標準（國際電工委員會或美國軍用標準）
更新時間:2025-09-10
手機自由跌落試驗機：電子產品跌落機適用于移動電話（手機）、對講機、電子詞典、樓寓對講電話、cd/md/mp3等小 型消費類電子制品及零部件之自由落下試驗。結構特點 本機采用電動結構升降，將被測試件置于專用夾具（可調行程）夾牢，按下跌落 鍵，氣缸松開，試件將作自由落體試驗。跌落高度可作上下調整，高度計精確地 顯示跌落高度，操作簡單。
更新時間:2025-09-10
電線耐磨試驗機：符合標準：ul1581,ul62,gb5023.2-2008，主要將電線固定在夾具上,另一端掛上340g或500g砝碼,在1/2級(中等)金剛砂布上不斷上下運動,橡皮絕緣電纜進行耐磨試驗。.
更新時間:2025-09-10
360度彎折試驗機：本試驗機符合ul817、ccc等有關標準“軟線組件和電源軟線通用安全要求”的規(guī)定。適用于有關生產廠家和質檢部門對電源線、dc線進行彎曲試驗。
更新時間:2025-09-10
wr(z)耐磨型熱電阻、熱電偶采用熱噴涂工藝和特種耐磨合金材料保護管，適用于高溫、高壓及磨損、腐蝕嚴重的場合。如電站煤粉、石油裂解、建筑瀝青混合物等流動粉末或粒子的溫度測量。www.wellyb.com
更新時間:2025-09-10
希而科優(yōu)勢品牌 ahlborn 精密測量設備 ma2890系列如，ahlborn已經成為業(yè)內標桿企業(yè)，擁有大量尖端測量技術，全球化銷售網絡和良好的產品拓展性，ahlborn公司已經成為測量技術域的導者之一。在超過30年的發(fā)展過程中，德國愛爾邦ahlb
更新時間:2025-09-10
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更新時間:2025-09-10
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更新時間:2025-09-10
1、flh5000多路電阻測試儀是新型多路電阻測試儀應用于電子器件、電機繞組、接插件、開關、導體、點火器等元器件的測量。2、多路數據采集系統(tǒng)軟件采集溫度數據，記錄測試數據，繪制電阻曲線
更新時間:2025-09-10
1、智能化、寬范圍、高精密的直流電阻測試儀器2、電熱材料，變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開關、接插件接觸電阻、導線電阻、元件焊點接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷3、用于生產線，可使用handler接口輸出良品/不良品信號，以提高生產線自動化測試能力
更新時間:2025-09-10
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-09-10
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數據傳輸的穩(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-10
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-09-10
數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數據，其中上升沿傳輸數據的奇數字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數據的偶數字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-09-10
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-10
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-10
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-10
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-10
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-10
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