Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真致。如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2025-07-09

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

更新時間:2025-07-09

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

更新時間:2025-07-09

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I復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

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VCS 500-MSurge測試儀可提供開放實驗室

emtest vcs 500-m surge測試儀北京硬件開放實驗室開放實驗室共享實驗室儀器租賃

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E1497A/E1498A惠普安捷倫HP/Agilent模塊

惠普安捷倫hp/agilent模塊e1497a/e1498a 硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃硬件實驗室

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E4208C惠普安捷倫HP/Agilent模塊

惠普安捷倫hp/agilent模塊e4208c 模塊板卡硬件開放實驗室硬件實驗室儀器租賃

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E5394AAgilent安捷倫惠普邏輯探頭

agilent安捷倫惠普e5394a邏輯探頭安捷倫邏輯測試線安捷倫邏輯線安捷邏輯探頭硬件開放實驗室儀器租賃

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T5240SUN服務(wù)器提供開放實驗室

sun服務(wù)器t5240 sun服務(wù)器硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃共享實驗室

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33313BHP惠普安捷倫微波開關(guān)

hp惠普安捷倫微波開關(guān)33313b 惠普微波開關(guān) 安捷倫微波開關(guān) 硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

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USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

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HCLD-3漏電起痕指數(shù)CTI測試儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗儀器有限公司

HCLD-3高壓漏電檢測儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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HCLD-3高壓漏電起痕試驗儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超g

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MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題

mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題重起問題

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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序：

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生

更新時間:2025-07-09

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.

更新時間:2025-07-09

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。

更新時間:2025-07-09

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。

更新時間:2025-07-09

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MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。

更新時間:2025-07-09

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MCP-T370低阻抗率計 MCP-型 (手提式)

商品名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色：維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)之四探針理論之高精度之阻抗率計操作簡單，現(xiàn)場使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理測定范圍：10-2～106ω資料輸出：usb memory體積：約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標(biāo)準(zhǔn)配備

更新時間:2025-07-09

該公司產(chǎn)品分類：北京愛歐德儀器設(shè)備有限公司

KE-2000JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀氣動飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器

商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機(jī)型：juki系列機(jī)型

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：深圳市鑫鴻基設(shè)備有限公司

廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器

gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：濟(jì)寧神東工礦設(shè)備有限公司

日本強(qiáng)力Kanetec高斯計TM-801EXP

日本強(qiáng)力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測量器

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州崇睿儀器儀表有限公司

PLC轉(zhuǎn)速儀ZKZ-4可編程轉(zhuǎn)速信號監(jiān)控裝置

zkz-4可編程轉(zhuǎn)速測控裝置外接轉(zhuǎn)速脈沖傳感器、殘壓信號實時監(jiān)測水輪發(fā)電機(jī)組的轉(zhuǎn)速，并在機(jī)組各轉(zhuǎn)速點輸出開關(guān)量信號和與機(jī)組轉(zhuǎn)速對應(yīng)的模擬量信號，為實現(xiàn)機(jī)組自動開、停機(jī)及電廠監(jiān)控系統(tǒng)服務(wù)。zkz-4可編程轉(zhuǎn)速測控裝置集頻率表、轉(zhuǎn)速表、轉(zhuǎn)速繼電器、轉(zhuǎn)速測試儀表于一體，是多用途轉(zhuǎn)速監(jiān)控表；

更新時間:2025-07-08

該公司產(chǎn)品分類：西安可雷可水電設(shè)備有限公司

SD-21陰極保護(hù)監(jiān)測儀SD-21

陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：北京瑞景上智環(huán)保技術(shù)有限公司

KIC 2000KIC 爐溫測試儀

kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司

FBT12SMT爐溫測試儀，美國布瑞得進(jìn)口爐溫測試儀

產(chǎn)品用途：用來對各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)

更新時間:2025-07-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳市精科創(chuàng)電子設(shè)備有限公司