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HCLD-3耐電痕試驗儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超

更新時間:2025-07-04

該公司產品分類：北京華測試驗儀器有限公司

高溫介電溫譜測量系統(tǒng)

高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電法設計原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標準。重復性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的精確度，同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電

更新時間:2025-07-04

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U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

更新時間:2025-07-04

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USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

更新時間:2025-07-04

該公司產品分類：北京淼森波信息技術有限公司

泰克tektronix 以太網一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網一致性測試夾具泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

更新時間:2025-07-04

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GSC60CNGSC60CN多功能電氣安全電能質量綜合分析儀，安規(guī)儀

原裝進口產品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場更換，功能強大，可以測量電能質量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流，無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等

更新時間:2025-07-04

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AFA-50足底壓力分析儀足底壓力測量儀鴻泰盛三維便攜

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數(shù)據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案�？蛇m用于疼痛科、康復科、神經內科、足踝外科、骨科等科室，廣泛應用于體檢康復、運動康復、教學科研等域。

更新時間:2025-07-04

該公司產品分類：鴻泰盛（北京）科技有限公司

S1全自動鞋墊機足型檢測儀鞋墊定制3D設備鞋機 S1

boonfeet s1足墊定制系統(tǒng)同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，根據分析數(shù)據，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時，系統(tǒng)采用獨特的加熱定型技術，該技術在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。

更新時間:2025-07-04

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Gaitview步態(tài)分析儀

●僅厚3mm、gai+view 超薄的測試板！●足底壓力的大小與分布能反映人體腿，足結構。功能及整個身體姿勢控制等信息，測試。分析足底應力，對臨床診斷。疾患程度測定和術后療效評價均具有重要意義。●gaitview特點●很高的便攜性僅有3mm厚度，是很薄的足壓測試儀，同時其尺寸僅為50*70cm,重量僅為4.8kg,具有很高的便攜性。

更新時間:2025-07-04

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ioi353人體成分分析儀

便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動安全、方便02人體工程學設計03.超輕型,約10kg04.a4打印機或熱敏打�。ㄟx配）05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會操作07.語音向導功能08.u盤數(shù)據備份

更新時間:2025-07-04

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foncti-630體態(tài)評估儀脊柱功能檢測儀器鴻泰盛 foncti-630

foncti-630體態(tài)評估系統(tǒng)，是一款集合3d體態(tài)檢測，步態(tài)檢測于一體的智能體測系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠紅外與結構光技術，模擬人體骨骼位置結構，分析肌肉功能狀態(tài)，診斷動態(tài)步態(tài)異常，預測各項健康風險，給予客戶健康評分并為客戶定制完整運動方案。

更新時間:2025-07-04

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BoonFeet S1腳型測量儀足部檢測鴻泰盛快速定制鞋墊

腳型測量儀足部檢測鴻泰盛快速定制鞋墊同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，根據分析數(shù)據，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時，系統(tǒng)采用的加熱定型技術，該技術在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。

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T280T-280S--TRACKING 體能測試設備鴻泰盛交互式

動態(tài)體能評估系統(tǒng)t280s是一款集動態(tài)體能評估、體適能評估、運動數(shù)據統(tǒng)計、運動健康分析、智能訓練指導為一體的評估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過穿戴式傳感器進行動作數(shù)據采集，對8個或以上特定動作的動態(tài)測試，采集身體運動參數(shù)，遠程無線數(shù)據傳輸，與交互平臺配合分析人體的重心運動軌跡及人體的運動姿態(tài)，自動進行分析并生成測試報告和出具訓練建議。

更新時間:2025-07-04

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AFA-50足底壓力測試系統(tǒng) 便捷式 AFA-50足底壓力測量儀

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數(shù)據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。

更新時間:2025-07-04

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CareBo-810兒童人體成分分析儀 CareBo-810 折疊機身

carebo-810采用國際先進的多頻率生物電阻抗技術進行人體成分準確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據本身，呈現(xiàn)身體的真實數(shù)據，通過獨有的準確測量技術和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務項目。

更新時間:2025-07-04

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BoonFeet C1鞋墊機器足型檢測儀鞋墊定制3D設備 C1

鞋墊機器足型檢測儀鞋墊定制3d設備 c1同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，根據分析數(shù)據，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。

更新時間:2025-07-04

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AFA-50三維步態(tài)分析儀足底壓力測試板步態(tài)分析儀鴻泰盛

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carebo-810身體成分分析儀器體測儀人體成分檢測儀鴻泰盛

更新時間:2025-07-04

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S13D矯正鞋墊機足型檢測儀鞋墊定制機全自動鞋墊機 S1

全自動鞋墊機s1足墊定制系統(tǒng)同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，作出針對性足墊解決方案。

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AFA-50穿戴式步態(tài)分析儀足部壓力檢測儀鴻泰盛便捷式

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AFA-50足底壓力測試儀足底壓力分析儀鴻泰盛三維便攜

更新時間:2025-07-04

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

更新時間:2025-07-04

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

更新時間:2025-07-04

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MIPI傳輸過程中的信號質量問題

mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。

更新時間:2025-07-04

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。

更新時間:2025-07-04

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質量問題 MIPI驅動問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題重起問題

更新時間:2025-07-04

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硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅動問題

硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題

更新時間:2025-07-04

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動

更新時間:2025-07-04

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MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動硬件工程師調試MIPI屏經驗

mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動硬件工程師調試mipi屏經驗

更新時間:2025-07-04

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MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題

mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題

更新時間:2025-07-04

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據格式，加深在數(shù)據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：

更新時間:2025-07-04

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

更新時間:2025-07-04

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生

更新時間:2025-07-04

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據。該數(shù)據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據內容，p0是個data,依次，p3是個data.

更新時間:2025-07-04

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據也是yuv格式的數(shù)據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。

更新時間:2025-07-04

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。

更新時間:2025-07-04

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MIPI眼圖數(shù)據 CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程

mipi眼圖數(shù)據 clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。

更新時間:2025-07-04

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PCIE2.0 3.0 驗證調試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2025-07-04

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據發(fā)送端和數(shù)據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2025-07-04

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2025-07-04

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EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。

更新時間:2025-07-04

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EMMC 時鐘測試數(shù)據信號測試

emmc 時鐘測試數(shù)據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

更新時間:2025-07-04

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EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

更新時間:2025-07-04

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EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。

更新時間:2025-07-04

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EMMC4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據信號測試

emmc4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

更新時間:2025-07-04

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