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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家

JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡
jem-3200fs場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)╢eg)和鏡筒內(nèi)置式ω型能量過(guò)濾器,能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時(shí)間:2025-08-28
場(chǎng)發(fā)射掃描透射電子顯微鏡
jem-f200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡,以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的jem-f200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強(qiáng),外觀設(shè)計(jì)精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-08-28
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡
德國(guó)zeiss場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ,專(zhuān)利gemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性, 卓越的低電壓性能,in lens 探測(cè)器,磁性材料高分辨觀察。
更新時(shí)間:2025-08-28
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡此外,為一次性獲取大量信息,單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720(選配),是之型號(hào)的64倍。利用這一功能,可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評(píng)估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中,需要根據(jù)測(cè)量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長(zhǎng)短取決于用戶的操作熟練度,這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能,可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2025-08-26
日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡近年來(lái)為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化,需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開(kāi)發(fā)以外,已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面,使用頻率日益高漲。同時(shí)市場(chǎng)也對(duì)儀器的操作性能提出了更高的要求,以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān)  此次發(fā)
更新時(shí)間:2025-08-26
日立臺(tái)式掃描電鏡
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉(cāng)內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇,可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡(jiǎn)化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過(guò)程(選配) 在樣品倉(cāng)上可選配光學(xué)相機(jī),樣品開(kāi)始觀察先拍攝樣品的整體照片,雙擊照片上的樣品,即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2025-08-26
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡這次新開(kāi)發(fā)的"su5000"對(duì)用戶沒(méi)有任何操作技巧上的要求,通過(guò)”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升,對(duì)于用戶來(lái)說(shuō),再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察,只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外,使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2025-08-26
SU8700  日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時(shí)間:2025-08-26
SU5000  日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面,向所有用戶提供高畫(huà)質(zhì)圖像--       日立高新技術(shù)公司(以下簡(jiǎn)稱:日
更新時(shí)間:2025-08-26
SU3800  日立中型掃描電鏡
 日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測(cè)試  可搭載的 大樣品尺寸:“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng),可應(yīng)對(duì) 大高度為80mm、重量為2k
更新時(shí)間:2025-08-26
TM4000 II / TM4000Plus I  日立臺(tái)式掃描電鏡
日立臺(tái)式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡(sem)在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開(kāi)始銷(xiāo)售,可放在辦公桌上,
更新時(shí)間:2025-08-26
SU3900  日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里,從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分,sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大,但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車(chē)零配件等超大
更新時(shí)間:2025-08-26
CUBE II臺(tái)式掃描電鏡
cube臺(tái)式掃描電鏡,適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心,可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè),接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng):業(yè)配置;l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡,圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái):大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),大
更新時(shí)間:2025-08-25
EmCrafts CUBE II臺(tái)式掃描電鏡內(nèi)置EDS
cube臺(tái)式掃描電鏡,適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心,可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè),接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng):專(zhuān)業(yè)級(jí)配置;l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三級(jí)電磁透鏡,圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái):大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),最大
更新時(shí)間:2025-08-25
電鏡能譜一體機(jī)研發(fā)新聞2024
em科特(emcrafts)cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機(jī),是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜(eds)設(shè)備的同時(shí)確保高分辨成像功能的應(yīng)用,簡(jiǎn)便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域,同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測(cè)量軟件豐富多樣,可滿足您日常檢驗(yàn)研究的所有需求。
更新時(shí)間:2025-08-25
臺(tái)式掃描電鏡@實(shí)驗(yàn)室動(dòng)態(tài)2024
em科特(emcrafts)cube-ⅱ smart是入門(mén)微尺度分析掃描電鏡,區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊,僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測(cè)量,無(wú)需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來(lái)任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-08-25
鎢燈絲掃描電鏡-應(yīng)用與分析2024
em科特(emcrafts)cube金屬夾雜物系列掃描電鏡,可根據(jù)不同的檢測(cè)需求,靈活定制自動(dòng)分析流程,保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息,如顆粒尺寸、形狀、長(zhǎng)寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬(wàn)顆粒的信息。
更新時(shí)間:2025-08-25
小型掃描電鏡#2024已更新
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi)),大大提升檢測(cè)效率。
更新時(shí)間:2025-08-25
微型掃描電鏡@實(shí)驗(yàn)室動(dòng)態(tài)2024
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi))。
更新時(shí)間:2025-08-25
微型掃描電鏡的產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞2024
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi))。
更新時(shí)間:2025-08-25
小型掃描電鏡#2024已更新(每日/實(shí)時(shí))產(chǎn)品
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性,擁有em科特(emcrafts)利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度(僅在3分鐘之內(nèi)),大大提升檢測(cè)效率。
更新時(shí)間:2025-08-25
鎢燈絲掃描電鏡的產(chǎn)品參數(shù)介紹#技術(shù)新聞2024
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉(cāng)室,內(nèi)含5軸多功能電動(dòng)樣品臺(tái),可輕松測(cè)量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉(cāng)可同時(shí)安裝了多個(gè)樣本,減少樣品來(lái)回放置時(shí)因抽真空所使用的時(shí)間,從而達(dá)到快速分析測(cè)樣的目的,有.效地提高檢測(cè)速度。
更新時(shí)間:2025-08-25
臺(tái)式掃描電鏡的2024產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞
em科特(emcrafts)cube-ⅱ smart是入門(mén)微尺度分析掃描電鏡,區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊,僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測(cè)量,無(wú)需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來(lái)任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-08-25
桌面掃描電鏡2024產(chǎn)品動(dòng)態(tài)已更新《新品/推薦》
em科特(emcrafts)cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身,cube系列占地面積小,便攜性能好,無(wú)需特殊安裝環(huán)境,用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)sem設(shè)備,節(jié)約空間成本。
更新時(shí)間:2025-08-25
CUBE金屬夾雜物掃描電鏡2024@科研單位采購(gòu)
em科特(emcrafts)cube金屬夾雜物系列掃描電鏡,可根據(jù)不同的檢測(cè)需求,靈活定制自動(dòng)分析流程,保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息,如顆粒尺寸、形狀、長(zhǎng)寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬(wàn)顆粒的信息。
更新時(shí)間:2025-08-25
EmCrafts CUBE II臺(tái)式掃描電鏡2023動(dòng)態(tài)已更新《新品/推薦》
cube臺(tái)式掃描電鏡,適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心,可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè),接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng):業(yè)配置;l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡,圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái):大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),大
更新時(shí)間:2025-08-25
超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
門(mén)為電子束敏感樣品和需大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-08-22
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
現(xiàn)有機(jī)型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合,衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。
更新時(shí)間:2025-08-22
超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
su7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像,而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外,它還具備大視野觀察、in-situ觀察等f(wàn)e-sem的眾多卓越性能。su7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了信息獲取量大化的新型掃描電鏡,可以滿足客戶的多種觀察需求。
更新時(shí)間:2025-08-22
熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
創(chuàng)新的“em wizard”界面更加直觀,僅需要“點(diǎn)擊”即可得到完美的圖像。超的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
更新時(shí)間:2025-08-22
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(GMH/GMU)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(XMU/XMH)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(LMH/LMU)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
全新設(shè)計(jì)的s8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-08-21
新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
tescan s9000 是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器,適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。s9000 配置 triglav™ 型 sem 鏡筒,具有超高的分辨率,在低電壓下尤為明顯;鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力,可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度,非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像,如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品,以及在半導(dǎo)體光敏樣品。
更新時(shí)間:2025-08-21
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
maia3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡,在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場(chǎng)發(fā)射定制版掃描電鏡(AMU)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
maia3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡,在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN聚焦離子束雙束掃描電鏡LYRA3
基于高分辨率肖特基feg-sem鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒,lyra3 fib-sem是一款sem與fib良好結(jié)合的一體化系統(tǒng),能夠滿足高要求客戶的需要。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(LMH/LMU)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(XMU/XMH)
最新一代的tescan mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過(guò)程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
掃描電鏡能譜一體機(jī) VEGA 3 Easyprobe
vega 3 easyprobe可分為高真空型和可變真空型,其運(yùn)用的領(lǐng)域非常廣泛,適合各類(lèi)高等院;蚬具x擇。easyprobe是sem/eds一體化機(jī)型,實(shí)現(xiàn)了one-touch式的操作,使得操作非常簡(jiǎn)單,甚至沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的人員也可以在一天內(nèi)學(xué)會(huì)操作。此外,easyprobe可以說(shuō)是性價(jià)比最高的一款sem/eds一體機(jī),軟件配置完整,硬件延續(xù)原有的vega并得到進(jìn)一步發(fā)展,是值得信賴的一款sem/eds一體機(jī)。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN大樣品倉(cāng)雙束電鏡 (FIB-SEM)
世界第一個(gè)完全集成式xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----fera3,提供了超高離子束束流(最高束流為2μa),其濺射速度比ga離子源高50多倍。對(duì)于目前浪費(fèi)時(shí)間或不可能進(jìn)行的需要刻蝕的材料,fera3型儀器是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN S9000 新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
tescan s9000 是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器,適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。s9000 配置 triglav? 型 sem 鏡筒,具有超高的分辨率,在低電壓下尤為明顯;鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力,可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度,非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像,如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品,以及在半導(dǎo)體光敏樣品。此外,s9000 配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)軌蛱峁└哌_(dá) 400 na 的束流,結(jié)合 triglav? 型 sem 鏡筒所具備的出色納米尺度分析性能和高穩(wěn)定性,為微分析和長(zhǎng)耗時(shí)樣品的分析應(yīng)用提供了最佳條件。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
全新設(shè)計(jì)的s8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡
s8000g是tescan最新s8000系列掃描電鏡的第一個(gè)新成員,是一款超高分辨雙束fib-sem系統(tǒng),它可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,并能以極佳的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作,可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。
更新時(shí)間:2025-08-21
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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