其他產(chǎn)品及廠家
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-07-04
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
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hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
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hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
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高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電
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出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401
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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
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原裝進(jìn)口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡(jiǎn)單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場(chǎng)更換，功能強(qiáng)大，可以測(cè)量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流，無(wú)跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時(shí)間:2025-07-04
足底壓力測(cè)試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評(píng)估，對(duì)足部壓力，足部畸形問(wèn)題進(jìn)行有效分析，提供針對(duì)性解決方案。可適用于疼痛科、康復(fù)科、神經(jīng)內(nèi)科、足踝外科、骨科等科室，廣泛應(yīng)用于體檢康復(fù)、運(yùn)動(dòng)康復(fù)、教學(xué)科研等域。
更新時(shí)間:2025-07-04
boonfeet s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評(píng)估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國(guó)際的高精度足底壓力分析技術(shù)，對(duì)用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評(píng)估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對(duì)性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用獨(dú)特的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過(guò)程中操作簡(jiǎn)單，效率很高，現(xiàn)場(chǎng)5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場(chǎng)直接穿戴。
更新時(shí)間:2025-07-04
●僅厚3mm、gai+view 超薄的測(cè)試板！●足底壓力的大小與分布能反映人體腿，足結(jié)構(gòu)。功能及整個(gè)身體姿勢(shì)控制等信息，測(cè)試。分析足底應(yīng)力，對(duì)臨床診斷。疾患程度測(cè)定和術(shù)后療效評(píng)價(jià)均具有重要意義！駁aitview特點(diǎn)●很高的便攜性僅有3mm厚度，是很薄的足壓測(cè)試儀，同時(shí)其尺寸僅為50*70cm,重量?jī)H為4.8kg,具有很高的便攜性。
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便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動(dòng)安全、方便02人體工程學(xué)設(shè)計(jì)03.超輕型,約10kg04.a4打印機(jī)或熱敏打。ㄟx配）05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會(huì)操作07.語(yǔ)音向?qū)Чδ?8.u盤數(shù)據(jù)備份
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foncti-630體態(tài)評(píng)估系統(tǒng)，是一款集合3d體態(tài)檢測(cè)，步態(tài)檢測(cè)于一體的智能體測(cè)系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠(yuǎn)紅外與結(jié)構(gòu)光技術(shù)，模擬人體骨骼位置結(jié)構(gòu)，分析肌肉功能狀態(tài)，診斷動(dòng)態(tài)步態(tài)異常，預(yù)測(cè)各項(xiàng)健康風(fēng)險(xiǎn)，給予客戶健康評(píng)分并為客戶定制完整運(yùn)動(dòng)方案。
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腳型測(cè)量?jī)x 足部檢測(cè) 鴻泰盛 快速定制鞋墊 同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評(píng)估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術(shù)，對(duì)用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評(píng)估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對(duì)性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過(guò)程中操作簡(jiǎn)單，效率很高，現(xiàn)場(chǎng)8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場(chǎng)直接穿戴。
更新時(shí)間:2025-07-04
動(dòng)態(tài)體能評(píng)估系統(tǒng)t280s是一款集動(dòng)態(tài)體能評(píng)估、體適能評(píng)估、運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、運(yùn)動(dòng)健康分析、智能訓(xùn)練指導(dǎo)為一體的評(píng)估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過(guò)穿戴式傳感器進(jìn)行動(dòng)作數(shù)據(jù)采集，對(duì)8個(gè)或以上特定動(dòng)作的動(dòng)態(tài)測(cè)試，采集身體運(yùn)動(dòng)參數(shù)，遠(yuǎn)程無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸，與交互平臺(tái)配合分析人體的重心運(yùn)動(dòng)軌跡及人體的運(yùn)動(dòng)姿態(tài)，自動(dòng)進(jìn)行分析并生成測(cè)試報(bào)告和出具訓(xùn)練建議。
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足底壓力測(cè)試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評(píng)估，對(duì)足部壓力，足部畸形問(wèn)題進(jìn)行有效分析，提供針對(duì)性解決方案。
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carebo-810采用國(guó)際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測(cè)體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過(guò)獨(dú)有的準(zhǔn)確測(cè)量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。
更新時(shí)間:2025-07-04
鞋墊機(jī)器 足型檢測(cè)儀 鞋墊定制3d設(shè)備 c1同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評(píng)估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國(guó)際的高精度足底壓力分析技術(shù)，對(duì)用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評(píng)估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對(duì)性足墊解決方案。
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足底壓力測(cè)試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評(píng)估，對(duì)足部壓力，足部畸形問(wèn)題進(jìn)行有效分析，提供針對(duì)性解決方案。
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carebo-810采用國(guó)際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測(cè)體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過(guò)獨(dú)有的準(zhǔn)確測(cè)量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。
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全自動(dòng)鞋墊機(jī)s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評(píng)估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術(shù)，對(duì)用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評(píng)估，作出針對(duì)性足墊解決方案。
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足底壓力測(cè)試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評(píng)估，對(duì)足部壓力，足部畸形問(wèn)題進(jìn)行有效分析，提供針對(duì)性解決方案。
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misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-04
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-04
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2025-07-04
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-07-04
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-07-04
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-07-04
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-07-04
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常，memory mapping空間讀寫(xiě)異常
更新時(shí)間:2025-07-04
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-07-04
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
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相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-07-04
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
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